Thematik
Die Nanotechnologie ist heute eines der zentralen Forschungsthemen. Für viele Anwendungen werden grosse Abmessungen (mm) des Nanomaterials benötigt. Diese werden zum Beispiel aus Nanopulver gesintert. Um den Sintervorgang untersuchen zu können, werden in situ Analysen mit Ionenstrahlen durchgeführt. Dabei sollen die anfallenden Daten in Echtzeit ausgewertet werden. Unregelmässig auftretende Störungen verunmöglichen nun eine saubere Auswertung.
Auchli Ct wurde beauftragt ein Filter zu entwickeln mit dem die Störungen detektiert und rechnerisch unterdrückt werden können.
Beitrag Auchli CT
- Analyse der potentiellen Störungen in Lichte der Messverläufe (bekannt durch Vorversuche)
- Entwickeln eines statistischen Filters inklusive rechnerisches Eliminieren der dominanten Störereignisse.
Kundennutzen
- Ein einfach zu implementierendes Filter ist entwickelt
- Erfolgreiche Durchführung und Auswertung der geplanten Versuche.
